Spectroscopies et Microscopies des Interfaces
Contact local : Grégory Francius, DR – Sofiane El Kirat Chatel, CR
Analyse d’échantillons (organiques, inorganiques et biologiques) dans tout type de milieu (à l’air, en solvant organique, en milieu aqueux) avec contrôle de la température.
- Imagerie/Topographie de surface des échantillons (résolution en z : 0.1 nm).
- Spectroscopie de force (résolution : 5 pN).
- Cartographie des propriétés mécaniques et d’adhésion (résolution : 256×256 pixels).
- Nanomanipulation & mesures de force spécifiques (single-molecule et single-cell force spectroscopy).
- Imagerie quantitative (peak force tapping – quantitative nanomechanical mapping).
- Acquisition simultanée de la morphologie et des propriétés physicochimiques.
- Mesures co-localisées AFM-Raman.
Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Liang Liu , CR
Analyse de la réactivité électrochimique d’échantillons, dans milieu d’électrolyte ainsi avec sondes à gel.
- Imagerie/Topographie de surface des échantillons.
- Mesures électrochimiques locales, e.g. CV, EIS, CA, avec résolution spatiale de micron.
- Cartographie des propriétés électrochimique.
- Approche de microélectrode ou la sonde à gel par courant/potentiel ou force de cisaillement.
- Couplage avec EQCM.
Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Aurélien Renard, IE
Imagerie de surface des échantillons solides MEB-FEG :
- Résolution sous haut vide : 1.5 nm (30 kV), 4.0 nm (1.0 kV).
- Résolution sous faible vide : 3.0 nm (15 kV).
- Résolution analytique (cartes X) de 50 nm à 5kV
Contact local : Mustapha Abdelmoula, IR – Romain Coustel, MCF
- Analyse qualitative et quantitative d’échantillons solides contenant l’élément « Fer » jusqu’à 1% de concentration du noyau sonde 57Fe dans l’échantillon analysé d’épaisseur 4 à 100 µ
- Un spectromètre en mode conventionnel en géométrie de transmission à température ambiante
- Un spectromètre en mode cryogénique en géométrie de transmission : une tête froide de 300 à 4 K, une tête froide de 300 à 8 K.
- Un spectromètre miniaturisé MIMOS en mode rétrodiffusion (réflexion) à l’ambiante sur spectromètre miniaturisé pour les analyses superficielles.
Contact local : Cédric Carteret, PU – Manuel Dossot, MCF – Fabienne Quilès, CR – Jérôme Grausem, IE
- Spectrométrie d’absorption infrarouge du proche infrarouge au lointain infrarouge et microscopie du proche infrarouge au moyen infrarouge
- Spectrométrie et microscopie Raman
- Absorption UV-Visible
Contact local :
- XPS : Martine Mallet, MCF – Aurélien Renard, IE
- UPS : Romain Coustel, MCF – Aurélien Renard, IE
Large spectre d’échantillons analysés : phases minérales, hybrides organo-minéraux, nanomatériaux, couches minces, matériaux électrogénérés, électrodes (capteurs), matériaux biologiques (biofilms, matériaux antimicrobiens), matériaux alimentaires déshydratés, polymères,…
- Etude de l’extrême surface (<10 nm) de tous types de matériaux solides compatibles avec l’ultra-vide.
- Identification de tous les éléments (sauf H et He) et quantification élémentaire (>0,1% at.).
- Informations sur les états électroniques, la nature des liaisons chimiques, les degrés d’oxydation…
- Etude des structures de bandes de valence (densité d’états électroniques) et mesure du travail de sortie de la surface.