Spectroscopies et Microscopies des Interfaces

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Responsable : Fabienne Quilès

SPECTROSCOPIES DES INTERFACES :

Spectroscopie électronique de surface XPS & UPS

Contact local : Martine Mallet (XPS), MCF – Romain Coustel (UPS), MCF – Aurélien Renard (XPS & UPS), IE

Spectrométrie nucléaire : Mössbauer 57Fe

Contact local : Mustapha Abdelmoula, IR – Romain coustel, MCF

Spectroscopies optiques d’absorption infrarouge / Raman / UV-Visible

Contact local  : Cédric Carteret, PU – Manuel Dossot, MCF – Fabienne Quilès, CR –  Jérôme Grausem, IE

 

MICROSCOPIES DES INTERFACES

Microscopie à force atomique (AFM)

Contact local  : Grégory Francius, DR

Microscopie électrochimique (SECM)

Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Liang Liu , CR

Microscopie électronique à balayage (MEB)

Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Aurélien Renard, IE

Microspectrométrie d’absorption infrarouge / Raman

Contact local  : Cédric Carteret, PU – Manuel Dossot, MCF – Fabienne Quilès, CR – Jérôme Grausem, IE

 

Plateforme SMI

 

LCPME – Site Villers

405 rue de Vandoeuvre
54600 Villers-lès-Nancy
France

+33 (0)3 72 74 74 00