Spectroscopies et Microscopies des Interfaces
Responsable : Fabienne QUILES
SPECTROSCOPIES DES INTERFACES :
Spectroscopie électronique de surface XPS & UPS
Contact local : Martine Mallet (XPS), MCF – Romain Coustel (UPS), MCF – Aurélien Renard (XPS & UPS), IE
Spectrométrie nucléaire : Mössbauer 57Fe
Contact local : Mustapha Abdelmoula, IR – Romain coustel, MCF
Spectroscopies optiques d’absorption infrarouge / Raman / UV-Visible
Contact local : Cédric Carteret, PU – Manuel Dossot, MCF – Fabienne Quilès, CR – Jérôme Grausem, IE
MICROSCOPIES DES INTERFACES
Microscopie à force atomique (AFM)
Contact local : Grégory Francius, DR – Sofiane El Kirat Chatel, CR
Microscopie électrochimique (SECM)
Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Liang Liu , CR
Microscopie électronique à balayage (MEB)
Contact local : Mariela Brites-Helu, IR – Aurélien Renard, IE
Microspectrométrie d’absorption infrarouge / Raman
Contact local : Cédric Carteret, PU – Manuel Dossot, MCF – Fabienne Quilès, CR – Jérôme Grausem, IE
Plateforme SMI
LCPME – Site Villers
405 rue de Vandoeuvre
54600 Villers-lès-Nancy
France
+33 (0)3 72 74 74 00